FMP100高品质系列膜厚仪--Fischer

菲希尔系列膜厚仪型号：

DUALSCOPE FMP100

自动识别基材，将两种测量法相结合（磁感应/电涡流，符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360标准），此通用型设备不仅可以对钢铁上的多种涂层进行测量还可以对非铁金属和非导电基材上的涂层进行测量。

仪器平台	应用软基基于MS Windows CE
显示器	明亮图形显示器（彩色、触摸屏）
键盘/操作	4个薄膜开关，软键盘，***多12个软键
探头连接器	10针插座
通讯界面	USB4（型号：Mini-AB）连接打印机或PC
内存	256MB，用于应用程式和测量数据
统计	平均值、标准偏差、Cp、Cpk，全部数据统计、直方图、总频率
安全机制	应用程式和系统密码保护，自动储存数据
数据输出	PDF格式的测量数据打印，测量数据以ASCII格式传输到PC
语言	中文、英语、德语、法语、意大利语、西班牙语、日文
电源	电池/可充电电池，或者AC适配器110/230 VAC3
尺寸/重量	89×40×170（W×D×H,mm），大约395g（不包含探头）
操作/运输	背带，仪器支持架（折叠式设计）
操作温度	10～40℃

 

菲希尔系列膜厚仪

影响测量值的因素与解决方法
使用Fischer测厚仪与使用其他仪器一样，既要掌握仪器性能，也需了解测试条件。使用磁性原理和涡流原理的Fischer测厚仪都是基于被测基体的电、磁特性及与探头的距离来测量覆层厚度的，所以，被测基体的电磁物理特性与物理尺寸都要影响磁通与电涡流的大小。即影响到测量值的可靠性，下面就这方面的问题作一下介绍。
1.边界间距如果探头与被测体边界、孔眼、空腔、其他截面变化处的间距小于规定的边界间距，由于磁通或涡流载体截面不够将导致测量误差。如必须测量该点的覆层厚度，只有预先在相同条件的无覆层表面进行校准，才能测量。(注：的产品有透过覆层校准的*功能可达3～10%的精度)
2.基体表面曲率在一个平直的对比试样上校准好一个初始值，然后在测量覆层厚度后减去这个初始值。或参照下条。
3.基体金属zui小厚度基体金属必须有一个给定的zui小厚度，使探头的电磁场能*包容在基体金属中，zui小厚度与测量器的性能及金属基体的性质有关，在这个厚度之上刚好可以进行测量而不用对测量值修正。对于基体厚度不够而产生的影响，可以采取在基材下面紧贴一块相同材料的措施予以消除。如难以决断，或无法加基材则可以通过与已知覆层厚度的试样进行对比来确定与额定值的差值。并且在测量中考虑这点而对测量值作相应的修正或参考第2条修正。而那些可以标定的仪器通过调整旋钮或按键，便可以得到准确的直读厚度值。反之利用厚度太小产生的影响又可以研制直接测铜箔厚度的测厚仪，如前所述。
4.表面粗糙度和表面清洁度在粗糙度表面上为获得一个有代表性的平均测量值必须进行多次测量才行。显而易见，不论是基体或是覆层，越粗糙，测量值越不可靠。为获得可靠的数据，基体的平均粗糙度Ra应小于覆层厚度的5%。而对于表面杂质，则应予去除。有的仪表上下限，以剔除那些“飞点”。
5.探头测量板的作用力探头测量时的作用力应是恒定的。并应尽可能小。才不致使软的覆层发生形变，以致测量值下降。活产生大的波动，必要时，可在两者之间垫一层硬的，不导电的，具有一定厚度的硬性薄膜。这样通过减去薄膜厚度就能适当地得到剩磁。
6.外界恒磁场、电磁场和基体剩磁应该避免在有干扰作用的外界磁场附近进行测量。残存的剩磁，根据检测器的性能可能导致或多或少的测量误差，但是如结构钢，深冲成形钢板等一般不会出现上述现象。
7.覆层材料中的铁磁成份和导电成份覆层中存在某些铁磁成分，如某种颜料时，会对测量值产生影响，在这种情况下，对用作校准的对比试样覆层应具有与被测物覆层相同的电磁特性，经校准后使用。使用的方法可以是将同样的覆层涂在铝或铜板试样上，用电涡流法测试后获得对比标准试样。