一、镀层标准片产品介绍：
镀层膜厚标准片又名膜厚仪校准片,专业用于测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度的时候进行标准化校准.也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量和强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB,五金电镀,半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
二、镀层标准片产品特点：
标准片通过美国NIST认证，其专门为X射线测厚仪大厂如德国费希尔Fischer、英国牛津Oxford（CMI）、美国热电Thermo、美国Veeco、韩国Micro Pioneer、日本精工Seiko等生产制作标准样品。
Calmetrics镀层标准片适用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray（X射线测厚仪）、 β-ray（β射线测厚仪）、磁感式及涡电流等多种原理的各种规格与尺寸。
X射线测厚仪标准片一般分为单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。例如：单镀层：Ag/xx，双镀层：Au/Ni/xx， 三镀层：Au/Pd/Ni/xx，合金镀层：Sn-Pb/xx， 化学镀层：Ni-P/xx。（所有标准片都附有NIST证书）
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