xulm菲希尔镀层测厚仪的测量度会受哪些因素影响

　　 xulm菲希尔镀层测厚仪检测电镀金属镀层厚度，对镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀铑、镀钯、镀银等镀层厚度可以达到分析，一次性可以分析5层，由于可测量的元素范围从铝至铀，xulm菲希尔镀层测厚仪的应用范围从工业应用伸展到科学应用。xulm菲希尔镀层测厚仪可应用于治金学、地质学、鉴证学或自然科学等，在工业方面，广泛用于五金电镀、电子半导体、PCB线路、首饰珠宝、卫浴、汽配的成份分析和镀层测量方面。

　　xulm菲希尔镀层测厚仪采用X射线荧光的工作原理是，X射线管产生初级射线照射在受检物质时，会激发物质放射X－射线萤光辐射，特定的元素有特定的辐射信号，接收器便会记录这些能量光谱。不需要先对样品进行处理便能测量，样品可直接放入测量室进行测量。

　　随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。xulm菲希尔镀层测厚仪采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。

　　介绍完xulm菲希尔镀层测厚仪的测量方法后，再来看看影响xulm菲希尔镀层测厚仪测量的因素是什么呢?

　　1.基体金属厚度

　　每一种 xulm菲希尔镀层测厚仪都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

　　2.基体金属磁性质

　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对xulm菲希尔镀层测厚仪进行校准；xulm菲希尔镀层测厚仪亦可用待涂覆试件进行校准。

　　3.基体金属电性质

　　基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对xulm菲希尔镀层测厚仪进行校准。

　　4.边缘效应

　　xulm菲希尔镀层测厚仪对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

　　5.曲率

　　试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

　　所以， xulm菲希尔镀层测厚仪的影响因素主要有基体金属厚度，基体金属磁性质，基体金属电性质，边缘效应和曲率这五个因素。